C測試儀
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產品名稱: C測試儀
產品型號: 3504-50
產品展商: 日本日置HIOKI
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簡單介紹
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
C測試儀
的詳細介紹
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
● 高速測量2ms
● 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
● 對應測試線，比較器功能/觸發輸出功能
● 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
● 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
● 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
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測量參數
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Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ）
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測量范圍
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C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
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基本精度
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（代表值）C: ±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定精度= 基本精度× B× C× D× E, B～E為各系數
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測量頻率
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120Hz, 1kHz
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測量信號電平
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恒壓模式: 100mV ( only 3504-60)， 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
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輸出電阻
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5Ω（CV測量范圍以外的開路端子電壓模式時）
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顯示
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發光二級管 （6位表示，滿量程計算器根據量程而定）
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測量時間
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典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
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功能
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BIN分類測量 (3504-40除外), 觸發同步輸出, 測量條件記憶, 測量值的比較功能, 平均值功能, Low-C篩選功能, 振動功能, 控制用輸出輸入 (EXT. I/O),
RS-232C接口（標配), GP-IB接口(3504-40除外)
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電源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, *大110VA
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體積及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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電源線×1，預備電源保險絲×1，使用說明書×1
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蘇州德計儀器儀表有限公司
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